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摘 要:本发明适用于光电检测技术领域,提供了一种荧光寿命的测量方法及装置,包括:首先,以预置的测量矩阵的每一行作为一个采样模式,每一个所述采样模式下的非零值位置作为一个时间门控延迟采样的稀疏信号通道,在每个采样模式下对样品进行延迟采样,将当前采样模式下的稀疏信号通道的光子数累加在一起获得一个压缩感知测量值,重复各采样模式获取系列压缩感知测量值;然后,利用所述压缩感知测量值并结合测量矩阵在l1范数最优化算法下求解方程得到稀疏系数;最后,通过已知的稀疏矩阵逆变换作用于所述稀疏系数,进行信号重构,得到荧光寿命衰减曲线,以实现荧光寿命的测量;本发明提供的方法提高了荧光寿命的测量速度。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201810237653.X | 专利名称: | 一种荧光寿命的测量方法及装置 |
申请日: | 2018-03-22 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/64搜分类 测量测绘搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2021/02/09 | 授权 | |
2018/09/28 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01N 21/64 专利申请号: 201810237653.X 申请日: 2018.03.22 |
2018/09/04 | 公开 |