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摘 要:本发明公开了一种雷电与电离层TEC异常时间相关性分析方法,包括以下步骤:(1)雷电数据分析;(2)太阳与地磁活动状况分析;(3)确定分析时段、分析区域;(4)雷电相关参数统计;(5)GIM数据获取;(6)计算分析点电离层TEC序列值(7)计算k天、j时刻点(latmean、lonmean)电离层序列的上下限(8)计算k天,各时刻电离层异常状况(9)k天,雷电与电离层TEC异常时间相关性分析。本发明提供的方法计算简单,能够方便、快捷地通过编程实现雷电与电离层TEC异常相关性的分析,具有较高的科研和应用价值。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201810519194.4 | 专利名称: | 一种雷电与电离层TEC异常时间相关性分析方法 |
申请日: | 2018-05-28 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01R29/08搜分类 其他搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |