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摘 要:本发明属于组织光学测量技术领域,涉及一种时域荧光层析成像系统标定方法,该方法用于标定系统各个通道传输因子,步骤如下:搭建用于替代成像系统中的成像腔的标定装置;将源光纤和探测光纤分别插在成像腔体上;在插槽内放置一些镜头纸,将探测光纤与第一通道相连;把780nm激光器打开,对与该通道相应的滤波轮上的所有中性滤光片的衰减率进行标定;把780nm激光器关掉,把830nm激光器打开,对该通道相应的滤波轮上的830nm长通滤光片的透过率的进行标定;重复上述步骤,完成对各个通道的滤波轮上所有中性滤光片的相对衰减率和830nm长通滤光片的透过率的标定。本发明能够消除系统通道传输性能上的差异。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201110429084.7 | 专利名称: | 一种多通道时域荧光层析成像系统标定方法 |
申请日: | 2011-12-16 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | A61B5/00搜分类 其他搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
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日期 | 法律信息 | 备注 |