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发明专利
已授权
微波瑞利散射测定流注放电电离波头时变电子密度装置
📄 申请号：CN201910090618.4
📄 发布日：2026/08/05
著录项目信息
申请日
2019-01-30
公开号
CN109688687B
公开日
2024-01-26
申请人
安徽工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
H05H1_00
IPC 分类号
H05H1_00
技术画像
所属领域
等离子体诊断
等离子体诊断
微波散射测量
放电物理
应用场景
科研实验, 高压放电监测, 等离子体工业, 电力设备绝缘检测
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摘要
本发明公开了等离子体电子密度测量技术领域的微波瑞利散射测定流注放电电离波头时变电子密度装置，包括控制板、信号源、示波器，待测量的等离子体在发射天线与接收天线之间发生瑞利散射，接收天线和第二功放相连后接到I/Q混频器的RF接口，I/Q混频器输出两路时变电压信号，并通过信号放大器放大后得到两路正交信号I与Q，示波器采集两路正交信号I与Q，通过示波器上的两路时变电压信号计算等离子体密度的时变特性。本发明采用非直接接触方式测量等离子体密度，提高了等离子体密度测量的有效性和真实性；适用范围更广，可以测量1011cm‑3以上的流注放电等离子体的电子密度，对等离子体放电的扰动小，具有极大的实用价值。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
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委托待转让
📌 交易状态：
在售
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未申报
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