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单层传声器阵列原位测量半空间边界表面声阻抗的方法

Name: 单层传声器阵列原位测量半空间边界表面声阻抗的方法
Brand: 浙江工业大学
SKU: 2022104827450
Availability: InStock

📄 申请号：CN202210482745.0 📄 发布日：2026/08/04

著录项目信息

申请日

2022-05-05

公开号

CN114935399A

公开日

2022-08-23

申请人

浙江工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01H15_00

IPC 分类号

G01H15_00

技术画像

所属领域

声学测量声学测量传声器阵列声阻抗测量

应用场景

噪声控制, 声学材料检测, 建筑声学, 汽车NVH, 环境声学

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摘要

单层传声器阵列原位测量半空间边界表面声阻抗的方法，包括：1.在边界的半空间一侧布置声源和传声器阵列，进行声压全息测量；2.建立边界一侧半空间声场的数学模型；3.确定基函数的最优展开项数；4.建立全息测量声压与边界表面声压的数学关系，重构边界表面声压分布；5.建立全息测量声压与边界表面介质质点法向振速的数学关系，重构边界质点法向振速分布；6.利用重构的声压和质点法向振速计算边界表面的声阻抗率。本发明基于近场声全息结合传声器阵列原位采集物理边界近场声压信息，实现了边界表面声阻抗的原位测量与计算，从而不再需要依赖标准的阻抗测量设备和测量环境来实施边界材料样本声阻抗的测量。

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图2

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