发明专利 已授权

基于量块理念的梯度功能研抛盘的制备方法

📄 申请号:CN201710010028.7 📄 发布日:2026/08/04

著录项目信息

申请日
2017-01-06
申请人
浙江工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

精密加工, 半导体晶圆抛光, 光学元件加工, 模具制造, 表面光整加工

摘要

本发明公开了一种基于量块理念的梯度功能研抛盘的制备方法,将传统的研磨盘分隔成多个一级环,并且将所有分割出的环分割成多个等级的二级环,所有的二级环形成具有多个梯度的等级库,根据加工工件的加工要求,从等级库中取出相应等级的环组合形成具有梯度分布的研抛盘。本发明实现了在一个研抛盘上可以同时完成研磨和抛光工序,提高了加工的效率;研抛盘的弹性模量在轴向和径向上都存在弹性模量的梯度式分布,工件更容易实现按需去除,提高加工表面的质量;基于量块的等级理念,创新的构建了一个研抛盘的等级库,可以实现研抛盘的实时组合,替换方便,且便于任意工件的加工,很容易便可以配组出与之适应的研抛盘。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

20190305
✅ 授权
20170623
?? 实质审查的生效 :
20170531
📄 公开

同领域国内专利 · IPC: (B24D18_00)

B24D18_00 覆盖1个领域
议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:49 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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