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一种测定微纳米颗粒表面电荷密度的方法

Name: 一种测定微纳米颗粒表面电荷密度的方法
Brand: 西南大学
SKU: 2022113710751
Availability: InStock

📄 申请号：CN202211371075.1 📄 发布日：2026/08/04

著录项目信息

申请日

2022-11-03

公开号

CN115656266B

公开日

2026-01-30

申请人

西南大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N27_00

IPC 分类号

G01N27_00 , G01N27_42 , G06F30_20 ,

技术画像

所属领域

微纳米颗粒表征微纳米颗粒表征表面电荷检测胶体与界面化学

应用场景

纳米材料研发, 胶体稳定性分析, 药物递送系统, 水处理, 涂料与颜料分散

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摘要

本发明公开了一种测定微纳米颗粒表面电荷密度的方法，该方法首先利用光散射技术测定给定电解质类型和温度下的微纳米颗粒的临界聚沉浓度；其后，在该浓度条件下，计算颗粒间的静电斥力和长程分子引力的合力，并确定该条件下的颗粒表面电位；最后根据所得表面电位得到颗粒的表面电荷密度。本发明可通过激光散射仪对临界聚沉浓度的测定，准确计算获得微纳米颗粒表面电荷密度，不需分别在气相介质中测定颗粒的外表面积和在液相介质下测定颗粒的表面电荷数量，再计算表面电荷密度。

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种二硫化钼花状纳米球的制备方法及析氢应用

当前第 / 件

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