发明专利已授权

一种大口径轴对称非球面测试方法及装置

📄 申请号：CN201711116481.2 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2017-11-13

公开号

CN107883912A

公开日

2018-04-06

申请人

西安工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B21_20

IPC 分类号

G01B21_20

技术画像

所属领域

光学检测光学检测非球面测量精密制造

应用场景

天文望远镜制造, 空间光学遥感, 激光光学系统, 精密光学元件检测, 高端装备制造

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摘要

本发明涉及光学加工与测量技术领域，具体涉及一种大口径轴对称非球面测试方法及装置。其实现大口径非球面的精确测量，可将探针式接触测量设备的测量量程增大80%，实现大口径光学表面的检测测量。本发明采用探针式轮廓仪进行表面轮廓测量时，测针在测量杆的带动下沿非球面表面做横向运动，随零件表面轮廓的形状进行纵向扫描，从而改变了测量光路与参考光路之间的光程差，使干涉条纹发生移动，对测量结果进行分析，得到非球面的测量偏差数据，实现了大口径零件的检测和分析。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种集筛选消毒清洗为一体的用于种子生长实验的装置

当前第 / 件

一种铌酸钾改性的BTKBT基储能陶瓷及其制备方法

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