发明专利 已授权

一种随机光纤点衍射测量方法

📄 申请号:CN201711484032.3 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2017-12-29
公开号
CN108254086A
公开日
2018-07-06
申请人
西安工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

光学检测, 精密测量, 光纤传感, 工业无损检测, 科研实验

摘要

本发明涉及一种随机光纤点衍射测量方法,该方法包括:第一步、HE‑NE激光器发出的光束经滤波孔、显微镜头组、光纤后,一部分衍射光入射到CCD相机上,另一部分衍射光经可移动的被测件反射并与参考光在CCD靶面上干涉产生干涉条纹;第二步、普通移相器带动被测件进行微小位移,使测量光场产生相位变化,并记录两帧随机相移条纹图;第三步、根据采集的条纹图数据,解调测量相位:第四步、去包裹后,展开提取的测量相位,计算波像差函数。本发明将相移技术其应用于测量系统进行相位解调,所提出的一种随机相位解调方法只需要2帧干涉图,就可以对干涉图引入的相移增量进行精确确定。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

20220128
✅ 授权
20180731
?? 实质审查的生效 :
20180706
📄 公开

同领域国内专利 · IPC: (G01J9_02)

G01J9_00 G01J9_02 覆盖2个领域
议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:28 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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