发明专利 已授权

基于SIW-CSRR的用于测量介电常数的微波传感器

📄 申请号:CN201910766950.8 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2019-08-20
公开号
CN110531164B
公开日
2022-05-13
申请人
杭州电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

介电常数测量, 材料特性检测, 无损检测, 工业检测, 微波传感

摘要

本发明公开基于SIW‑CSRR的用于测量介电常数的微波传感器。本发明包括介质层、顶层金属层、底层金属层;顶层金属层刻槽有两个金属CSRR结构;上述两个金属CSRR结构由大小不同的两个开口环谐振器构成,其中开口环谐振器为开口槽环;较小开口环谐振器内嵌在较大开口环谐振器内;两个开口环谐振器的开口方向相反;较大开口环谐振器开口处至较小开口环谐振器的空间位置为电场强度最大、磁场强度最小的区域,该区域放置待测样品。本发明产品抗干扰能力更强,结构更简单,低成本,便于携带且该传感器的灵敏度和质量因子表现的很好,同时该新型微波谐振器的Q值达到786.5,很适用于精确测量磁介质材料的介电常数。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

20220513
✅ 授权
20191227
?? 实质审查的生效 :
20191203
📄 公开

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