发明专利已授权

一种微光学元件透射相位的检测方法

📄 申请号：CN202010386808.3 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2020-05-09

公开号

CN111562089B

公开日

2022-05-20

申请人

西安工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01M11_02

IPC 分类号

G01M11_02 , G03H1_04 , G03H1_12 ,

技术画像

所属领域

光学检测光学检测微光学元件相位测量

应用场景

光学器件检测, 精密制造, 光通信, 科研实验

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摘要

本发明属于微光学元件高精度检测技术领域，具体涉及一种微光学元件透射相位的检测方法。为解决微光学元件透射相位信息的高精度检测问题。本发明采用的方法首先通过软件程序设计出微光学元件理想全息图，加载在空间光调制器上，通过计算机进行调制，将调制后的参考光路与物光干涉得到新的全息图。根据液晶空间光调制器的相位调制范围，使其作为相位补偿器，最终得到的新全息图实现了相位信息的补偿。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种三相谐波谐振抑制装置及抑制方法

当前第 / 件

一类磺化BINAP和聚醚功能化离子液体一体化的手性催化剂在不对称氢化反应中的应用

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