发明专利 已授权

一种共光路相移数字全息显微测量装置

📄 申请号:CN202010597987.5 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2020-06-28
公开号
CN111796501B
公开日
2022-03-22
申请人
西安工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

精密测量, 工业无损检测, 生物医学成像, 材料科学分析, 微电子检测

摘要

本发明公开了一种共光路相移数字全息显微测量装置,包括沿光路方向依次固定设置的光纤激光器(1)、光纤准直器(2)、可调衰减器(3)、显微物镜(5)、平面平晶I(6)、平面平晶II(7)、压电陶瓷驱动器(8)、会聚透镜(9)、滤波器(10)和成像探测器件(11),所述成像探测器(11)通过电缆与计算机(12)连接。本发明利用紧邻的两平面平晶,实现参考光和测试光间的相位差变化,获得被测目标的相移数字全息显微成像。该装置不但消除了非共光路中系统噪声的影响,而且易于实现高精度相移全息,有效地提高了数字全息的相位重建精度。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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