发明专利已授权

多微透镜汇聚二次成像探测的多目标参数测试装置和方法

Name: 多微透镜汇聚二次成像探测的多目标参数测试装置和方法
Brand: 西安工业大学
SKU: 2021101879707
Availability: InStock

📄 申请号：CN202110187970.7 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2021-02-18

公开号

CN112985197A

公开日

2021-06-18

申请人

西安工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

F42B35_02

IPC 分类号

F42B35_02 , G01P3_68 , G01B11_00 ,

技术画像

所属领域

测试装置光学成像微透镜阵列目标探测测试装置

应用场景

目标探测, 光电测量, 机器视觉, 安防监控, 光学仪器

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摘要

本发明提供了一种多微透镜汇聚二次成像探测的多目标参数测试装置和方法，涉及光电测试技术领域，由大画幅镜头、光学镜头、阵列汇聚透镜、光电探测器、双狭缝光阑、线阵CCD、信号处理电路模块、图像采集模块和上位机等组成，其中，双狭缝光阑呈不同的角度位于大画幅镜头的下方。当目标穿过探测区域，光电探测器探测到目标信号，通过信号处理电路模块将目标信号进行放大、滤波处理；线阵CCD获取目标图像，图像采集模块采集并存储目标图像，将目标信号和图像信息传输给上位机，本发明的测试装置构造简单、探测视场大、探测能力强，可对多目标参数测量。

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20231117

⏳ 专利实施许可合同备案的生效：

20220916

✅ 授权

20210706

?? 实质审查的生效：

20210618

📄 公开

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