发明专利已授权

一种用于曲轴综合测量的测头装置和测量方法

📄 申请号：CN202110291471.2 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2021-03-18

公开号

CN113074677B

公开日

2023-03-17

申请人

西安工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B21_00

IPC 分类号

G01B21_00 , G01B21_02 ,

技术画像

所属领域

精密测量精密测量机械量测量自动检测

应用场景

发动机制造, 汽车制造, 机械加工, 质量检测, 工业自动化

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摘要

本发明公开了一种用于曲轴综合测量的测头装置和测量方法，该装置由导向机构、板型测量接触机构、位移检测单元及壳体构成。导向机构包括两组平行圆膜片、两根支撑杆、前端连接件、后端连接件及膜片底座；板型测量接触机构由测板、测杆构成；位移检测单元由两支精密位移传感器及其固定座构成；壳体由前盖、后盖及中间壳体构成。本发明采用两组平行布置的弧形槽圆膜片导轨作为测头的导向机构，通过采用双传感器布置消除阿贝误差，以此提高测头测量精度。本发明为独立的测头装置，将其安装到具有坐标测量功能的曲轴综合测量平台，可实现曲轴径向参数的精密测量。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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