发明专利已授权

一种基于RUN优化算法的宇称时间对称成像模型

Name: 一种基于RUN优化算法的宇称时间对称成像模型
Brand: 金陵科技学院
SKU: 202411688971X
Availability: InStock

📄 申请号：CN202411688971.X 📄 发布日：2026/06/16

著录项目信息

申请日

2024-11-22

公开号

CN119335740A

公开日

2025-01-21

申请人

金陵科技学院

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G02B27_00

IPC 分类号

G02B27_00

技术画像

所属领域

计算成像计算成像图像重建优化算法

应用场景

医学成像, 工业无损检测, 光学成像, 科研实验

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摘要

本发明提出了一种基于RUN(RUNge Kutta optimizer，龙格库塔优化器)的宇称时间对称(Parity Time Symmetry)成像模型，包括：点光源、两组多层膜、空气层，其中两组多层膜满足PT对称特性。点光源发出的光线，在两组多层膜之间发生负折射，从而在出射端生成图像。优化模块分析图像信号，并利用RUN优化器来调整多层膜的介电常数及厚度。本发明能够有效减少像差，实现理想无像差成像；与现有的模型相比，本发明采用更少的材料，工艺更加简单，不需要设定其它数据；与现有其它元启发式优化算法相比，本发明在PT对称成像模型设计方面表现出更高的效率，具有较快的收敛速度、陷入局部极值的概率低、对不同介电参数适应性强，能够充分发挥PT对称成像系统的成像能力。

常见问题

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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