发明专利已授权

一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法

📄 申请号：CN202210043180.6 📄 发布日：2026/05/28

著录项目信息

申请日

2022-01-14

公开号

CN114441872A

公开日

2022-05-06

申请人

西南交通大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R29_22

IPC 分类号

G01R29_22

技术画像

所属领域

压敏电阻技术压敏电阻技术老化状态评估电子器件可靠性

应用场景

电路过压保护, 电力设备防护, 电子设备可靠性评估

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摘要

一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法，该评估方法的流程图如图2所示。其评估步骤为：通过冲击发生器对ZnO压敏电阻进行冲击，通过记录冲击次数和测得的冲击后的温度值得到ZnO压敏电阻在不同冲击次数和温度下的工作电流因子，最终结合工作电流因子和工作电压因子得到ZnO压敏电阻的老化状态评估因子，根据计算得出的ZnO压敏电阻的老化状态评估因子判断ZnO压敏电阻的老化状态。本发明的有益效果在于提供了一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法，并搭建了试验平台，且主要实现方法就是考虑ZnO压敏电阻的老化状态评估因子，对电力通信系统的稳定运行具有重要意义。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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