发明专利 已授权

一种电子元器件质量检测方法

📄 申请号:CN202411900583.3 📄 发布日:2026/05/14

著录项目信息

申请日
2024-12-23
公开号
CN119688004B
公开日
2025-10-28
申请人
深圳市启建时代科技有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

电子元器件生产, 电子制造, 质量控制, 工业自动化

摘要

本发明公开了一种电子元器件质量检测方法,涉及电子元器件质量检测技术领域,利用初步检测单元,对电子元器件进行初步的检测采集,依次计算输出电子元器件的亮度均匀性综合指标LJ和缺陷检测指数QX,并利用修复模块对电子元器件进行缺陷修复,利用二次检测单元,对电子元器件进行修复后的检测采集,计算输出电子元器件修复后的修复后亮度均匀性综合指标LJnew和修复后平均亮度值LDavgnew,利用综合评估电子元器件质量单元,计算输出综合质量评估DZX,并评估检测修复措施的结果,本发明通过提高亮度均匀性检测的准确性、优化缺陷检测效果、完善综合质量评估体系,实现对电子元器件质量的全面、准确评估,为后续的质量改进工作提供有力支持。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

同领域国内专利 · IPC: (G01D21_02)

G01D21_00 G01D21_02 覆盖2个领域
议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:101 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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