发明专利 已授权

高压消解-x射线荧光光谱法测量玻璃粉中元素含量的分析方法

📄 申请号:CN201710343497.0 📄 发布日:2026/04/10

著录项目信息

申请日
2017-05-16
公开号
CN106990129B
公开日
2019-07-16
申请人
南通大学技术转移中心有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

材料成分分析, 质量检测, 玻璃制造, 陶瓷制造, 电子材料分析

摘要

本发明公开了一种高压消解‑x射线荧光光谱法测量玻璃粉元素含量的分析方法。本发明中玻璃粉原材料的硼含量是利用高压消解以及混酸溶解的化学方法测出,同时,利用X‑射线荧光光谱仪测出固定硼含量的人工合成制样的锌、锑、铋强度,建立强度与含量的标准曲线从而推出在相应硼含量下,玻璃粉原材料中该锌、锑、铋的含量。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:137 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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