实用新型 已授权

一种用于FT测试治具的微针模组

📄 申请号:CN202320383071.9 📄 发布日:2026/02/25

著录项目信息

申请日
2023-03-03
公开号
CN219434923U
公开日
2023-07-28
申请人
成都市博杰自动化设备有限公司
法律状态
已下证
专利类型
实用新型
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

半导体芯片测试, 封装测试, 电子产品功能测试, 电路板测试

摘要

本实用新型涉及微针模组技术领域,公开了一种用于FT测试治具的微针模组,包括微针模组上固定座,所述微针模组上固定座的上端面一侧设置有凹槽,所述凹槽的内部设置有第一连接器,所述微针模组上固定座的上端面两侧均设置有两个等高螺丝,四个所述等高螺丝的尾端均通过安装孔连接有微针模组下固定座,所述微针模组下固定座的内部设置有多个探针,所述微针模组下固定座的下端设置有微针定位块,所述微针定位块的下端设置有微针导向块,所述微针导向块的下端设置有第二连接器。本实用新型中,大大优化了整个微针测试模组的灵活性,应用柔性浮动结构减少了部件之间的冲击和磨损,增加了微针测试模组的使用寿命和长期稳定性,大大提高了实用性能。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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议价
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