发明专利 已授权

一种检测磁源深度的测磁阵列装置及方法

📄 申请号:CN202011078273.X 📄 发布日:2026/07/02

著录项目信息

申请日
2020-10-10
公开号
CN112213380B
公开日
2022-07-15
申请人
上海达铭科技有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

矿产勘探, 地质调查, 地下目标探测, 地磁监测, 工程地质勘查

摘要

本发明涉及一种检测磁源深度的测磁阵列装置,包括:第一测磁传感器单元、第二测磁传感器单元和第三测磁传感器单元,每组所述测磁传感器单元之间按预设间距水平排列,所述第一测磁传感器单元包括上下放置的第一测磁传感器和第四测磁传感器,所述第二测磁传感器单元包括上下放置的第二测磁传感器和第五测磁传感器,所述第三测磁传感器单元包括上下放置的第三测磁传感器和第六测磁传感器。本发明还涉及一种检测磁源深度的方法,通过得到的两组磁异常信号来计算两个磁源目标深度,并将两个磁源目标深度取平均值得到最终磁源深度。本发明能够有效检测磁源深度,实用性较好。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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