发明专利已授权

一种半电波暗室场均匀性测试装置及其方法

Name: 一种半电波暗室场均匀性测试装置及其方法
Brand: 南京信息工程大学
SKU: 2016103177322
Availability: InStock

📄 申请号：CN201610317732.2 📄 发布日：2025/12/23

著录项目信息

申请日

2016-05-13

公开号

CN105823935A

公开日

2016-08-03

申请人

南京信息工程大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R29_08

IPC 分类号

G01R29_08 , G01R35_00 ,

技术画像

所属领域

测试装置电磁兼容测试半电波暗室场均匀性测试测试装置

应用场景

电磁兼容测试, 无线通信设备测试, 汽车电子测试, 电子设备辐射发射测试, 射频测试

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摘要

本发明公开了一种半电波暗室场均匀性测试装置，包括半电波暗室和控制室，控制室位于半电波暗室外，且半电波暗室和控制室互为独立空间，半电波暗室内设置有发射天线和全向场探头，且发射天线和全向场探头之间的地上铺设有吸波材料；控制室内设置有信号发生器，信号发生器依次连接有功率放大器和定向耦合器，定向耦合器通过射频电缆连接位于半电波暗室内的发射天线。本发明能够对不同尺寸的半电波暗室进行场均匀性的测试，能够根据不同的半电波暗室尺寸，寻找到在电磁辐射抗扰度试验中EUT的最佳位置，从而能够更加准确的评估EUT的抗干扰性能，使结果更加的准确可靠，提高了测试效率，有效降低了测试成本和生产成本。

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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