发明专利已授权

一种介电温谱测试方法

Name: 一种介电温谱测试方法
Brand: 南通大学
SKU: 2021102703196
Price: 10000.0 CNY
Availability: InStock

📄 申请号：CN202110270319.6 📄 发布日：2026/07/27

著录项目信息

申请日

2021-03-12

公开号

CN113325044A

公开日

2021-08-31

申请人

南通大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N27_22

IPC 分类号

G01N27_22

技术画像

所属领域

测试方法介电性能测试材料电学表征温谱测量技术测试方法

应用场景

电子材料研发, 电容器性能评估, 压电材料表征, 绝缘材料检测

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摘要

本发明属于材料性能测试技术领域，提供了一种介电温谱测试方法。本发明提供的方法在待测对象的温度随时间变化的过程中，持续测量待测对象的介电特性，记录不同温度下的介电频谱，由此获取待测对象的介电温谱。该方法仅需一个温度升高或降低的过程，即可得到薄膜的介电温谱，无需繁琐地在每一个测试温度点下停留一段时间，极大地降低了科研人员的人力成本。由于本发明的方法，薄膜的温度连续、线性地上升或下降，整个过程持续不断，由计算机自动地测量和记录数据，因此，从理论上说，本发明的一个测试的过程所得到的温频参数，即相当于大量的温度点下测量得到的工作频率特性。

常见问题

这项专利是否已经下证？

是的，该专利已下证，法律状态为“已下证”，公开号： CN113325044A

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当前标价为 10000.0 元，不含过户费。支持议价，可委托平台代购或预约谈判。

权利要求书 (12项) 说明书附图

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图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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