发明专利 已授权

滤光片的截止深度检测方法

📄 申请号:CN202010948447.7 📄 发布日:2026/08/04

著录项目信息

申请日
2020-09-10
公开号
CN112033648B
公开日
2022-03-08
申请人
重庆理工大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

所属领域

应用场景

光学元件检测, 光通信, 摄像头模组, 显示器件, 半导体制造

摘要

本发明涉及一种滤光片的截止深度检测方法,包括光源,光源出射的光束穿过待测滤光片后,由光谱强度检测设备接收并显示初测光谱强度;在待测滤光片与光谱强度检测设备之间放置高浓度的溶液,使光源出射的光束穿过待测滤光片后,透过所述高浓度的溶液,再由光谱强度检测设备接收并显示再测光谱强度;将再测光谱强度与初测光谱强度进行对比,观察是否存在光谱强度有明显差异的特定波长,如果存在光谱强度有明显差异的特定波长,则判定待测滤光片在该特定波长上的透过率存在问题。本发明采用对比方式,能方便快捷地找出滤光片在哪些特定波长上存在吸收问题,明确了特定波长后,可更有针对性进行分析和改进提高,指导设计制造更完善、高品质的滤光片。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

同领域国内专利 · IPC: (G01M11_02)

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:10 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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