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专利详情
实用新型
已授权
一种半导体激光器测试用便于装夹调节的测试平台
📄 申请号:CN202121641219.1
📄 发布日:2025/10/13
著录项目信息
申请日
2021-07-19
公开号
CN215037195U
公开日
2021-12-07
申请人
深圳市天海检测技术有限公司
法律状态
已下证
专利类型
实用新型
主分类号
B25H1_00
IPC 分类号
B25H1_00
,
B25H1_08
,
技术画像
所属领域
激光器测试
半导体激光器
激光测试设备
装夹治具
测试平台
激光器测试
应用场景
半导体激光器测试, 光通信器件检测, 激光器生产检测, 实验室测试, 光电测试
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摘要
本实用新型公开了一种半导体激光器测试用便于装夹调节的测试平台,包括测试台和防护盖,所述测试台通过铰链与防护盖相连接,且所述测试台外部一周设置有软胶套,所述测试台内部开设有滑槽,且所述滑槽内部安装有调节组件,所述调节组件包括支撑台、阻尼转轴和支臂。该半导体激光器测试用便于装夹调节的测试平台采用防护盖的设置,使其将测试台覆盖,从而可有效的保证该平台在不使用时能够对内部零部件有良好的防护性,配合软胶套的设置,使其能够减小工作人员与该平台的撞击磕碰,通过滑槽与调节组件的设置,使其能够调节其位置与角度,方便其测试,通过夹持组件的设置,使其能够对不同尺寸的半导体激光器进行夹持,提升其夹持的稳固性。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
一种升降式冷热冲击测试设备
当前第 / 件
一种抗干扰温度巡检测控仪
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覆盖
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📋 交易方式:
委托待转让
📌 交易状态:
在售
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📋 项目申报:
已报项目
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