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著 录 项 目:
专利/申请号: | CN201410245661.0 | 专利名称: | 一种测量微纳器件延迟特性的测量装置和测量方法 |
申请日: | 2014-06-04 | 申请/专利权人 | 华南师范大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 广东省广州市天河区中山大道西55号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | IPC分类号: | G01M11/00 分类检索 |
公开/公告日: | 2017-05-24 | 转让价格: | 【平台担保交易】 |
公开/公告号: | CN104075875B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
浏览量: | 23 | 所属领域: | 测量测绘专利转让搜索 |
摘 要:本发明公开了一种测量微纳器件延迟特性的测量装置和测量方法,该测量装置包括飞秒激光器、波长调谐器、光纤耦合器、第一3dB光纤耦合器、可调光延迟线、外接光纤、第二3dB光纤耦合器、光纤聚焦透镜、分束系统、凸透镜、非线性晶体、小孔光阑、柱透镜、CCD光谱仪、控制终端、待测微纳器件耦合系统以及用于控制非线性晶体进行转动的电动角位移台,外接光纤包括第一外接光纤和第二外接光纤,非线性晶体安装在电动角位移台上。本发明可以进行时域‑频域二维探测,可以直接测量得到微纳器件的延迟时间,测量成本低、效率高而且准确度高,可广泛应用于微纳器件延迟特性的测量领域中。
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2020/01/21 | 专利权的转移 | 登记生效日: 2020.01.02 专利权人由华南师范大学变更为陕西专壹知识产权运营有限公司 地址由510630 广东省广州市天河区中山大道西55号变更为710000 陕西省西安市经济技术开发区凤城六路旺景国际大厦1号楼1单元10602室 |
2017/12/29 | 著录事项变更 | 发明人由何苗 张加勤 曹国飞变更为何苗 张加勤 曹国飞 郑树文 |
2017/05/24 | 授权 | |
2014/10/29 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01M 11/00 专利申请号: 201410245661.0 申请日: 2014.06.04 |
2014/10/01 | 公开 |
申请号 | 专利名称 | 发布日期 |
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