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摘 要:本发明涉及光学元件损伤测试技术领域,尤其涉及一种新型光学元件损伤测试方法及装置。根据泵浦光获取成像光源一、成像光源二和成像光源三;由所述成像光源一生成元件表面损伤图像;由所述成像光源二生成元件表面图像;由所述成像光源三生成多张元件表面细节图像;根据所述元件表面损伤图像、所述元件表面图像、所述元件表面细节图像生成元件损伤整体图,并对所述元件损伤整体图上的损伤部位进行标记显示。本发明不仅能够清晰的区分出光学元件表面异物或损伤,而且能够得到详细的损伤区分图,降低对光学元件的维护困难程度,减少光学元件的维护成本。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201910741078.1 | 专利名称: | 一种光学元件损伤测试方法及装置 |
申请日: | 2019-08-12 | 申请/专利权人 | 衡阳师范学院 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 湖南省衡阳市珠晖区衡花路16号(东校区) |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/95搜分类 光学仪器搜索 |
公开/公告日: | 2019-10-18 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN110346381A | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |