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摘 要:一种基于接触式测量的离轴检测法,用于测量平面圆孔径球面复眼透镜阵列的结构参数,属于仪器仪表领域和精密测量技术领域。通过求解探针轨迹上各个检测弧的圆心至镜片基面的距离H,利用透镜口径值D和H计算各个透镜的曲率半径R0和矢高f0,实现了触针轨迹离轴的情况下对复眼透镜阵列的检测,具有检测效率高、检测精度高的特点,对统计平面圆孔径复眼透镜阵列的结构参数,评价被测复眼透镜阵列的器件品质和指导先进加工技术的工艺改进有较大意义。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202110433882.0 | 专利名称: | 一种基于接触式测量的离轴检测法 |
申请日: | 2021-04-21 | 申请/专利权人 | 哈尔滨理工大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号哈尔滨理工大学 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B21/00搜分类 测量测绘搜索 |
公开/公告日: | 2021-06-15 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN112964209A | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |