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摘 要:本发明创造提供了一种基质辅助激光解析离子源真空进样装置,包括腔体、二维移动平台,二维移动平台设置在腔体内并沿水平导轨和竖直导轨进行左右和上下移动,二维移动平台上方还设置有靶台,腔体上方设有盖板,盖板可上下移动。本发明通过与进样舱驱动齿轮连接的齿轮驱动电机转动,带动舱盖齿轮向下转动,使得盖板的凹槽与舱盖齿轮通过密封胶圈形成封闭腔室,以形成过渡真空腔室,可以对进样舱单独抽放真空,按照真空进样系统的控制流程,有效地实现在系统真空度不变的情况下,简单快速的更换样品;本发明在维持高真空度的状态下,实现了快速的自动进样与检测,大大提高了质谱仪器的工作效率。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201711351923.1 | 专利名称: | 一种基质辅助激光解析离子源真空进样装置 |
申请日: | 2017-12-15 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N27/626搜分类 仪器仪表搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |