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摘 要:本发明涉及一种栅格地图解析方法装置设备和介质,包括以下步骤:获取第一栅格地图数据,第一栅格地图数据包括平面瓦片参数信息;获取第二栅格地图数据,第二栅格地图数据包括立体瓦片参数信息;利用第二栅格地图数据更新第一栅格地图数据,其更新的方式为:将第一栅格地图数据的一部分替换为第二栅格地图数据,其余部分不变;基于更新后的第一栅格地图数据在当前显示界面显示对应的数字地图。本发明能够获取精度更高的立体栅格地图,同时提高栅格地图解析性能。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202311445369.9 | 专利名称: | 一种栅格地图解析方法、装置、设备和介质 |
申请日: | 2023-11-02 | 申请/专利权人 | 中国地质大学(武汉) |
专利类型: | 发明 | 地址: | 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06F16/29搜分类 其他搜索 |
公开/公告日: | 2023-12-05 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN117171288A | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |