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摘 要:本发明公开了一种曲面测量装置标定的方法、设备和存储介质,将用于曲面测量的测量装置置于坐标系中,根据位置关系通过两次标定,得到非接触式距离传感器基准点Od和基准轴Zd在标靶坐标系TaCS中的表示,构建计算公式,通过内点法优化算法,进行精标定计算,得到精确的Q、U、C,确定Od和Zd在TaCS坐标系的位置及方向。通过本发明,能够在曲面测量中实现提高测量点精度,实现柔性化检测的目的。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201910411267.2 | 专利名称: | 曲面测量装置标定的方法、设备和存储介质 |
申请日: | 2019-05-16 | 申请/专利权人 | 武汉工程大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06T7/70搜分类 测量测绘搜索 |
公开/公告日: | 2023-07-18 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN110211174B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |