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本发明涉及数模转换技术领域，特别是涉及一种数模转换控制方法、数模转换器、集成电路及设备，所述数模转换控制方法用于N位数模转换，包括以下步骤：采样，两个电容阵列的第1电容均接参考电平，其余电容接地；根据第1次比较结果，输出电压高的电容阵列的所述第一电容接地；根据前次比较结果，输出电压低的电容阵列的至少一个电容接参考电平；重复该步骤直至完第N‑2次比较；根据第N‑2次以及第N‑3次的比较结果确定所述电容阵列末尾两位电容的参考电平；根据第N‑1次以及第N‑3次的比较结果确定所述电容阵列的末尾两位电容的参考电平，完成N位数模转换。本发明实施例提供的方法电容数量减少，能耗降低。

本发明公开了一种高精度模数转换器，包括第一输入端、第二输入端、正相电容阵列、反相电容阵列、比较器和移位寄存器；所述第一输入端通过所述正相电容阵列进而连接至所述比较器的同相输入端，所述第二输入端通过所述反相电容阵列进而连接至所述比较器的反相输入端，所述比较器的输出端与所述移位寄存器的输入端连接。本发明通过正相电容阵列和反相电容阵列，可以在比较时切换电压，从而比较器在不消耗任何开关能量的情况下执行第一次比较，而且每次比较电容阵列消耗的能量均比传统结构消耗的能量小，能够有效减小电容阵列的平均开关功耗。本发明可广泛应用于电子电路技术领域中。

本申请提供了一种模数转换器及模数转换方法，涉及集成电路技术领域，可以避免数模转换器对模数转换器的模数转换精度的限制。该模数转换器中，采样保持电路，对模拟信号进行采样生成模拟采样信号；第1级比较器，根据模拟采样信号以及满量程电压的1/2，生成第1比较结果，该第1比较结果对应的逻辑值为模拟采样信号对应的数字信号的第1高有效位的数值；第n级控制器，根据第1级比较器输出的第1比较结果至第n级比较器输出的第n比较结果，生成控制信号；第n+1级比较器，根据模拟采样信号以及第n级控制器输出的控制信号，生成第n+1比较结果，该第n+1比较结果对应的逻辑值为模拟采样信号对应的数字信号的第n+1高有效位的数值。

公开了一种模数转换器(ADC)。ADC包括DAC和比较器，该DAC基于模拟输入和数字输入字生成第一信号，该比较器生成比较器输出，比较器输出具有与第一信号和第二信号之间的差的表示对应的值。在第一时段期间，第二信号等于参考信号，第一信号等于模拟输入，并且比较器生成第一比较器输出。在第二时间段期间，第二信号等于参考信号，第一信号等于模拟输入加上预定信号，并且比较器生成第二比较器输出。SAR逻辑电路基于第一比较器输出和第二比较器输出生成DAC的数字输入字。

一种逐次逼近寄存器(SAR)模数转换器(ADC)，包括：SAR ADC包括：DAC，用于接收模拟输入电压和数字输入字，并产生第一电压。SAR ADC还包括比较器，用于基于第一电压和参考电压产生第二电压。第二电压具有与第一电压和参考电压之差的表示相对应的值。SAR ADC还包括SAR逻辑电路，用于为从比较器接收第二电压，并生成用于DAC的数字输入字。SAR逻辑电路还用于生成表示模拟输入电压的值的数字输出字，其中该SAR逻辑电路的数字输出字的位数比DAC的数字输入字的位数多。

公开了一种ADC。该ADC包括SAR逻辑电路、DAC、比较器和电压发生器。该电压发生器包括连接到比较器的第一开关，该第一开关被配置为选择性地将比较器的第二输入端连接到参考电压；电容器，连接到比较器的第二输入端；以及第二开关，连接到电容器并选择性地连接到接地电压或参考电压。第二开关被配置为选择性地将电容器连接到接地电压或参考电压，SAR逻辑电路还被配置为接收比较器输出电压，并基于从比较器接收的一个或多个比较器输出电压生成DAC的数字输入字。

本发明公开了一种用于低功耗SAR ADC中的控制电路，包括同相端电容阵列、反相端电容阵列、同相端混合开关控制电路、反相端混合开关控制电路、Vcm采样开关电路和电压比较器；同相端电容阵列通过同相端混合开关控制电路选择接入同相输入信号Vip、共模电平Vcm、同相参考电平VRP或反相参考电平VRN，反相端电容阵列通过反相端混合开关控制电路选择接入反相输入信号Vin、共模电平Vcm、同相参考电平VRP或反相参考电平VRN；同相端电容阵列和反相端电容阵列均与Vcm采样开关电路相连，同时分别与电压比较器的同相输入端和反相输入端相连。本发明第一次比较建立的速度快，能耗低，不会造成电容阵列横向过长。