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本发明公开了一种基于微弱信号的ADC通道延迟标定方法、系统及设备，涉及ADC通道延迟技术领域，包括以下步骤：首先将已知频率和相位的微弱信号和待测的模拟信号同时输入ADC中；通过微弱信号检测模块对微弱信号进行提取；然后利用ADC采样数据中提取的微弱信号，计算得出ADC通道的延迟。由于微弱信号的输入和提取能够实时进行，因此ADC通道的延迟可被实时标定，这使得对ADC通道延迟的修正也可以实时进行。通过该方法，也可以对多个ADC通道进行采样数据的延迟对齐，从而使得硬件电路设计时无需保证各个ADC通道具有严格相对延迟关系。

本发明涉及一种基于伪随机序列注入的流水线SAR ADC数字后台校准方法，属于模拟集成电路技术领域。在第一级SAR ADC量化得到余差信号后，在余差信号中注入伪随机序列，叠加后的信号被后级ADC采样和转换，最终在数字码输出码中引起非线性误差，接着对输入的序列和数字输出码作相关运算得到电路中非理想因素的误差信息，最后通过变步长的迭代算法逼近电路中实际的级间增益值用于数字码重构模拟信号，最终达到校准的效果。本发明可避免迭代过程步长step对速度和精度的影响，用于校准电容失配和运放的有限增益引起的级间增益误差，且在校准的迭代过程中实现更优的速度和精度，明显改善ADC的性能，提高信噪比和无杂散动态范围。

本发明公开了一种自校准复合结构ADC，采用动态比较器替代传统普通型比较器，无静态直流功耗，大大降低了ADC整体功耗；考虑到ADC测量误差主要来源于具体工艺生产出的电容的容值与设计的容值之间的误差，增设了电容自校准模块，通过电容自校准模块对电容性数模转换模块的内部电容进行校准；采用全并行4位模数转换模块直接对模拟信号进行粗量化，得到高位数字信号，协同电容性数模转换模块与动态比较器的逐次比较环节，大大节省逐次比较的时间，提高ADC量化编码的速度，得以实现高速、高精度和低功耗的性能。

本发明涉及一种变参数变步长伪随机注入的Pipeline‑SAR ADC校准方法，属于模拟集成电路领域。该方法可校准Pipeline‑SAR ADC因电容失配、运放增益失调、比较器失调等非理想因素引起的误差，通过注入伪随机序列提取ADC的非理想因素导致的误差，然后引入变参数反双曲正切函数改变校准的迭代步长，从而使预估增益值逐步趋近实际增益值，达到校准的效果。本发明相比传统的伪随机注入校准技术，其校准收敛速度更快、精度更高，减少了硬件资源的消耗。校准时序和ADC转换相互独立，校准过程中ADC的转换过程不受影响，保证了数字和模拟系统独立运行，增强校准系统的跟踪能力。

本发明请求保护一种应用于时域交织型模数转换器之中，将通道间的时钟偏差消除，解决了时域交织型模数转换器由于时钟偏差的存在降低ADC性能的问题。其中，所述方法通过将四个通道的数字输出码提取出来，按顺序排列之后，以第一个输出的数字码作为基准，将第一个通道的输出码与其他三个通道的数字码进行运算，通过若干个乘加单元，将每个通道与第一个通道的时钟偏差计算出来，利用电压与微分的关系，将由于时钟偏差产生的误差电压去除，以达到消除时钟偏差对于ADC的动态性能的影响。该校准方法无需额外参考通道，对于输入信号无特定要求，只需要一个校准周期就能将多个通道同时校准完成，控制逻辑简单，可以达到以较小的代价快速校准时钟偏差的目的。