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本发明公开一种氟硅酸钠生产优化计算方法，计算氟硅酸钠不同晶面的晶面能，选取晶面能最小晶面；对所述晶面能最小晶面，采用预设的电子密度的等值面进行表面静电势的绘制显示并计算能量；获取预设数量的杂质离子，计算所述杂质离子替换晶面能最小晶面中预设数量氟离子的能量，根据已计算的能量计算替换后的能量差并输出。本发明通过计算氟硅酸钠不同晶面的晶面能，选择晶面能最小的晶面为主导晶面并进行后续的计算。而后计算了杂质离子取代氟硅酸钠中氟离子的能量变化，通过计算结果展示了杂质离子与氟硅酸钠主导晶面的结合能，给出了杂质离子杂质对晶面能、晶体生长的能量变化情况，根据该能量可以准确判断杂质对氟硅酸钠生产的影响。