本发明提供一种基于集成光量子芯片的纠缠‑干涉互补性验证装置及方法,装置包括:片上量子比特干涉单元、路径探测器单元和测量单元;片上量子比特干涉单元包括依次分布在目标量子比特的光子传播路径上的第一分束器、相位调制器和第二分束器;路径探测器单元包括依次分布在路径探测器的光子传播路径上的第三分束器和可调耦合器;测量单元包括相互连接的单光子探测器阵列和数据采集与处理模块;其中,片上量子比特干涉单元的输出端和路径探测器单元的输出端分别连接至测量单元的输入端。本发明在集成光量子芯片上验证纠缠与干涉的互补关系,为片上量子计量和信息处理提供了核心器件。
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📂 H04B10_70
👤 龙岩学院
📅 2026-05-14