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专利名称：一种超声波测深仪的校准检测装置申请号：2024114941095 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：发明关键词：测探仪相似专利发布日：2025/07/24
摘要：本发明提供一种超声波测深仪的校准检测装置，涉及超声波测深技术领域，包括：底座和测深仪；所述底座的顶部固定安装有一组支架，第二杆件的底部开设有限位孔，且第一杆件顶部的限位杆插接安装于第二杆件底部的限位孔上，底部第一杆件的外侧固定安装有反射校准板；第二杆件与第一杆件处于展开一百八十度位置后自动自锁，使得测深仪始终处于底部反射校准板的垂直上方位，以提高装置的校准精度，且装置具有较佳的组装可调性；解决了不易对测深仪进行快速定位拆装，容易影响工作效率，且装置不易对较深的位置进行比对校准，校准杆过长时，操作不方便，而用绳索进行较深位置的校准时，测深仪容易与校准板不属于同一垂直线上影响装置的标准精度问题。

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