几何参数测量类专利转让_商标转让

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专利名称：一种细长孔几何参数测量装置以及方法申请号：2017110538654 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：发明关键词：测量测绘以及几何参数测量相似专利发布日：2023/09/20
摘要：本发明涉及光电检测技术领域，尤其是涉及一种细长孔几何参数测量装置以及方法。该测量装置包括定位机构、行走机构和测量机构；所述定位机构用于使待测工件进行自动定心；所述测量机构包括：自动定心测头、韧性测杆、激光器、气动传感器和CCD处理器；所述激光器的光纤穿设于所述韧性测杆的内部通道与所述激光瞄准器连接，所述激光瞄准器与所述CCD处理器信号连接；所述气动传感器的气源通过所述韧性测杆的进气孔与所述气动定心测头连通；所述行走机构用于携带韧性测杆进行移动并使其第二端的自动定心测头移动至待测工件的细长孔入口处。本发明可以方便地实现细长孔轴线直线度及圆度检测工作,不受测杆的刚度和长度的限制。

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