本发明提供一种芯片低功耗验证方法,包括:模拟芯片初始掉电状态;模拟芯片上电复位;读取boot模式及启动地址,读取CPU指令,按照芯片低功耗场景进行用例配置,CPU配置待机;配置深睡场景的子系统处于掉电状态,唤醒到来后,可以从掉电状态直接恢复到上电状态,唤醒方式需要进行遍历测试;配置浅睡场景的子系统不掉电,处于待机状态,唤醒来临后,从待机状态直接恢复到工作状态。低功耗用例采用SVA断言对掉电上电时序实时监测,减少验证的人工检查工作量,大大提高工作效率。
📄 2021102443127
📂 G06F30_3308
👤 西安石油大学
📅 2021-03-04
本发明公开了一种无线电SOC平台DUT的验证方法,其包括步骤S1‑S8,本方案通过处理器与FPGA的DMA接口作为整个验证测试平台的驱动层,提高了输入测试激励的供给速度,从而能更快速的完成高覆盖率的测试验证,并且将输入激励与结果向量保存成文件的形式,有利于验证的重现。DUT的输入激励端与结果向量输出端都通过DMA模块连接到处理器和FPGA的AXI总线上,DUT模块的输入激励与结果向量分析通过处理器来进行控制,输入测试激励由于采用DMA下发,可以并行完成多个模块的测试,整个测试平台运行在实际的原型机中,验证效率高效。
📄 2019106484364
📂 H04B17_00
👤 电子科技大学
📅 2019-07-18