本发明公开了一种三端口收发芯片参数提取方法。为解决现有技术中三端口收发芯片测试步骤繁琐、效率低下的技术问题,本发明对三端口收发芯片的Txin端口施加不同大小的激励功率以执行扫描过程,并基于微波理论将三端口收发芯片等效为S2D参数集和三端口S参数的级联。本发明以微波理论为基础,仅通过对芯片的Txin端口执行不同激励功率下的扫描,无须其它繁琐测试步骤,解决了三端口收发芯片参数提取技术问题,获得了简化芯片测试步骤的技术效果。本发明适于芯片测试领域。
📄 202210953286X
📂 H04B17_10
👤 成都工业学院
📅 2022-08-10