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  • 专利名称:固体薄膜纳米压痕连续测量仪      申请号:2013107552639     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:固体薄膜 纳米压痕 连续测量仪   相似专利 发布日:2024/09/25  
    摘要: 固体薄膜纳米压痕连续测量仪,包括底座、水平气动定位装置、Z轴定位装置、显微镜瞄准装置,所述的水平气动定位装置包括气浮定位平台底座、兼做X轴气动定位平台的导轨、Y轴气动定位平台、电机轴座、电机、电机推杆、气浮滑块和顶板;所述的Z轴定位装置包括Z轴加载块、过渡板、滑台、加载块压箱、步进电机、丝杆;所述的显微镜瞄准装置包括显微镜本体、线圈磁铁驱动器、压针和用于探测压针位移的位移传感器,所述的压针与所述的线圈磁铁驱动器电连接。本发明的有益效果是:尤其适用于测量薄膜、镀层、微机电系统中的材料等微小体积材料力学性能;可以在纳米尺度上测量材料的各种力学性质。
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