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本实用新型公开了检测设备技术领域的一种用于机器视觉检测的高自由度强联动性轴承成像装置，包括支撑基座，所述支撑基座上安装有工作台，所述工作台的上部设置有不透光的可移动外层防护罩，所述工作台中设置相机支架，所述支撑基座的一侧设有工业机器人，所述工业机器人通过棘轮转向机构进行控制转向，本实用新型通过棘轮转向机构与工业机器人的联动，使得工作台与工业机器人每次分拣时转过相同角度，内部相机可对轴承实时成像并通过相应算法检测轴承的缺陷，及时发出信号引导工业机器人拣去不良品，更好的适应流水线生产。

本实用新型涉及视觉检测技术领域，公开了一种半导体视觉检测用工作台，包括基座和摄像头，基座的上表面固定安装有第一支撑座、支撑架和第二支撑座，支撑架竖直固定安装有第一电机，第一电机的输出端固定安装有连杆，连杆的上端固定安装有盛放盘；第二支撑座的上端水平固定安装有第二电机，第二电机的输出端固定安装有旋转架，旋转架的一端固定安装有摄像头，旋转架的另一端固定安装有衬板；第一支撑座的上端通过振动机构安装有蜗杆减速器，蜗杆减速器的输出端固定安装有拨片。本实用新型通过可振动的拨片和可旋转的盛放盘配合，能够便利地将立着的半导体进行铺平；可翻转的摄像头和衬板能够分别对两侧的半导体进行正反面拍摄。

本发明提出了一种芯片外观不良分拣方法和系统，所述方法包括：检测识别外观不良的芯片，并对所述外观不良芯片上打上不良外观标定识别码；在芯片传输过程中实时扫描每个芯片，确定所述芯片上是否存在不良外观标定识别码；当检测到芯片存在不良外观标定识别码时，控制推送装置将所述带有不良外观标定识别码的芯片推至芯片传送带的外观不良芯片所在传送区域，并对芯片传送带上运行方向上的第一个推送装置的推送次数进行计数；控制反推装置对外观不良芯片所在传送区域内的芯片进行复核检测，在复合检测无误后，在外观不良芯片所在传送区域将带有所述芯片存在不良外观标定识别码的芯片尽进行分拣。所述系统包括与所述方法步骤对应的模块。