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  • 专利名称:一种有序硅纳米孔道薄膜/氧化铟锡电极电化学检测铅离子的方法      申请号:201610620605X     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:食品检测监测 食品重金属检测 食品安全   相似专利 发布日:2025/04/14  
    摘要: 本发明公开了一种有序硅纳米孔道薄膜/氧化铟锡电极电化学检测铅离子的方法,包括以下步骤:(1)将待检样品与缓冲液混合得到pH值为3.6~6.0的待测液;(2)以有序硅纳米孔道薄膜/氧化铟锡电极作为工作电极,恒电压法富集待测液中的铅离子,富集电压为-0.8V~-0.6V;(3)将完成富集的电极置于空白的pH值为3.6~6.0的缓冲液中,利用微分脉冲伏安法测得峰电流值,根据标准曲线计算待检样品中的铅离子浓度;所述微分脉冲伏安法扫描的起始电位为-0.95V~-0.65V,终止电位为-0.4V~0.5V。本发明检测方法可实现对痕量铅离子的检测,在实际样品的检测尤其是生物复杂样品的检测中具有潜在应用价值。
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