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  • 专利名称:新型角度传感器及其测量方法      申请号:201810688632X     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:精密测试   相似专利 发布日:2024/08/15  
    摘要: 本发明提供了一种新型角度传感器及其测量方法,该新型角度传感器包括透射部件,所述透射部件用于同被测物体相连接,所述透射部件可旋转并且沿周向设有若干个透光孔,透射部件设有中空部,光源位于所述中空部,且位于透射部件的中心,且位置固定不变,光源发射的光束通过所述透光孔透射出去;光电探测器一,用于在光束从透光孔透射至同一个光电探测器的测量过程中,接收从透光孔射出的光束,并显示其入射位置;处理系统,用于根据所述光电探测器一上所接收到的光束的入射位置变化值,处理得到被测物体的旋转角度值。本新型角度传感器不仅可以实现连续角度测量,而且精度高、计算速度快。
  • 专利名称:基于多普勒效应的修正式测速传感器及其标定与测量方法      申请号:2018107197038     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:精密测试 半导体激光器 光电探测器 测试测速算法   相似专利 发布日:2024/07/12  
    摘要: 本发明涉及基于多普勒效应的修正式测速传感器及其标定与测量方法,所述测速传感器包括有激光束;分光镜,将入射的激光束分为激光束一与激光束二;反光镜,用于接收入射三角反射镜并被其反射的激光束一,并使激光束一反射至棱镜一;光电探测器一,用于接收经棱镜一折射并透射出的激光束一,并测量其入射位置;棱镜二,使激光束二发生折射,并透射出去;光电探测器二,用于接收透射出的激光束二,并测量入射位置。本发明通过多普勒效应:指物体辐射的波长因为光源和观测者的相对运动而产生变化,并通过激光束一在光电探测器一上入射位置的变化,从而计算出被测物体的速度,同时根据光电探测器二接收到激光束二的入射位置对被测物体的速度做出修正。
  • 专利名称:基于多普勒效应的双重修正式测速传感器及标定与测量方法      申请号:2018107078683     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:精密测试 半导体激光器 光电探测器 测试测速算法   相似专利 发布日:2024/07/12  
    摘要: 本发明涉及基于多普勒效应的双重修正式测速传感器及标定与测量方法,所述测速传感器包括有激光束,分光镜一将激光束分为激光束一与激光束二,所述激光束一通过三角反射镜反射至分光镜二,分光镜二使得激光束一分为激光束三与激光束四,激光束三入射至棱镜一,光电探测器一接收棱镜一射出的激光束三,同时光电探测器二接收所述激光束四,光电探测器三接收棱镜二透射出的激光束二的位置。本发明利用光电探测器二和三测得的位置变化量对光电探测器一测得的位置变化量进行修正,可以提高测量精度。
  • 专利名称:一种棱锥式连续角度测量传感器及其测量方法      申请号:2020101870746     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:精密测试 航空航天 工业生产 机械制造 军事科学 测试测量算法   相似专利 发布日:2025/04/14  
    摘要: 本发明提供了一种棱锥式连续角度测量传感器及其测量方法,该传感器包括:光源,用于发射光束;正棱锥体,所述正棱锥体用于同被测物体相连接,且可随被测物体一起旋转,正棱锥体的锥面用于反射所述光源发射的光束;光电探测器,用于在光束反射至同一个光电探测器的测量过程中,接收经正棱锥体的锥面反射的光束,并显示其入射位置;处理系统,用于根据所述光电探测器上所接收到的光束的入射位置变化值,处理得到被测物体的旋转角度值。本发明中对光源的位置没有过多的要求,因此不会因为光源的位置难以固定于旋转轴上而导致测量误差,进而可以提高测量准确性。
  • 专利名称:一种磁性微位移平台式级联阶梯角反射镜激光干涉仪及标定方法和测量方法      申请号:2015103690906     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:精密测试 激光器 激光测量 定位检测 精密仪器   相似专利 发布日:2024/08/20  
    摘要: 本发明涉及一种精密测试技术及仪器领域,特别涉及一种磁性微位移平台式级联阶梯角反射镜激光干涉仪及标定方法和测量方法,磁性微位移平台式级联阶梯角反射镜激光干涉仪,包括有激光源、微动阶梯角反射镜组、干涉测量光电探测器组、移动角反射镜和分光镜组,还包括有反射测量光电探测器组,所述反射测量光电探测器组包括有z个反射测量光电探测器,所述第二激光束组在由所述移动角反射镜射向所述分光镜组后还形成有反射激光束组,所述反射激光束组的各激光束分别射向一个所述反射测量光电探测器。本申请的激光干涉仪,根据反射激光束组的强度确定激光干涉光束的干涉状态,如此实现抗环境干扰的目的。
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